2010年9月10日，由上海纳米技术工作组组织的国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率测定》项目，在中心举行了专家会审。会议由全国纳米技术标准化技术委员会组织、上海纳米技术工作组协助召开。
会议由全国纳米技术标准化技术委员会王孝平副秘书长主持，全国微束标准化技术委员会黄惠忠教授担任专家组组长。来自科研、技术、生产单位及标准等方面的15名专家听取了标准承担单位相关人员所作的标准起草工作、标准内容和编制说明等汇报，并对标准送审稿的内容进行了逐条逐句的详细评审。专家组一致认为标准送审稿完整可行，建议起草单位会后按评审会提出的意见修改后报送上级主管部门。
