2017年5月3日下午，受全国纳米技术标准化技术委员会委托，上海纳米技术工作组组织相关专家对《纳米二氧化钛中锐钛矿型与金红石型比率测定 X射线衍射法》和《用原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法》两项国家标准进行评审，会议在中心102会议室召开。来自业内的评审专家和主要标准编制组成员参加了会议，会议由全国纳米技术标准化技术委员会副主任沈电洪研究员主持。该两项标准由上海交通大学和中心共同起草。
中心主任、上海纳米技术工作组主任委员兼秘书长何丹农教授对与会领导、专家的到来表示热烈欢迎，希望各位专家对中心以及工作组的发展继续给予指导和支持。接着评审专家认真听取了编制组关于《标准》编制工作情况的汇报，并对《标准》送审稿进行了逐字逐条审查，经质询、讨论和审查评议，认为被评《标准》内容全面、技术先进、结构合理、操作性强，对于相关行业的发展和技术推广应用将起到促进作用，一致通过被评《标准》的决议。
截至目前，上海纳米技术工作组已获得各类标准项目近40项，已经发布7项国家标准，2项上海市地方标准。此外，工作组紧密结合上海市科创中心建设，研究能加快地区产业升级步伐、增强产业核心竞争力的标准体系。与此同时，工作组也将一如既往地参与和支持全国纳米技术标准化技术委员会的工作，为我国争取在国际标准制定领域的话语权而努力奋斗。
